介绍电感（L）、电容（C）和电阻（R）作为电子设备的关键性能指标，以及传统LCR测量方法的局限性，如惠斯通电桥和RC充放电法。
明确本文的研究目标，即设计并实现一款基于STM32H750单片机的LCR电桥测试仪，旨在提高测量精度和效率。
概述本研究采用的技术路线，包括正交鉴相法、STM32H750单片机的使用及软件算法开发。
介绍本文的章节安排，涵盖研究背景、技术路线、系统设计、实验验证和结论建议等内容。
概述国际上知名厂商如Keysight和Hioki的LCR测试仪，以及开源硬件和软件的发展情况。
总结国内高校及科研机构的研究成果，以及商业市场上中低端LCR表产品的现状。
分析本课题在技术革新、成本优势和应用价值方面的重大意义。
详细解释LCR电桥的基本工作原理，包括电桥平衡条件和测量方法。
介绍正交鉴相法在LCR测量中的应用，如何通过正交解调算法分离被测信号的实部和虚部。
分析STM32H750单片机在LCR电桥设计中的优势，包括高性能和低成本的特点。
描述LCR电桥的硬件设计过程，包括各模块电路设计和PCB板的设计。
阐述LCR电桥的软件设计，包括单片机编程技术和算法实现。
说明LCR电桥系统的整合与验证过程，确保系统功能的正确性和稳定性。
介绍实验设计的具体步骤，包括实验条件设定和实验参数选择。
展示实验结果，包括测量精度、频率范围和抗干扰能力等方面的测试结果。
分析实验结果，讨论实验过程中遇到的问题及解决方法。
总结本研究的主要发现和结论，包括LCR电桥的性能指标和实际应用效果。
基于研究结果，提出进一步改进LCR电桥设计和测量方法的建议。